供应PHYNIXSurfix分体式测厚仪

PHYNIXSurfix分体式测厚仪prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" 


型号：(B)FN,(B)F,(B)N   产地：德国  (7500为BF价格，其他型号请询掌柜)
特点：世界较新科技，手机外形，较小测面积菜单操作，
分辨率0.1µm，两类基体自动识别
量程：0-1500µm，0-60mils，
90°直角探头九种规格，统计值在线显示 

可选型号： 
Surfix (B)FN 型适合测量金属基体上的
涂镀层、氧化膜等。
Surfix (B)F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。

Surfix (B)N 型适合有色金属材上的膜厚测量。

技术参数： 
测量范围 ：    0-1500µm,0 - 60mils
误    差：     1µm或1%读数 
分 辨 率：     0.1µm或<测量读值的2% 
显    示：     背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操作指南 
基体较小面积： 5mmX5mm 
基体较小曲率： 凸面：1.5mm 凹面：5mm 
基体较小厚度： F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准 厂家校准，零校准，校准箔校准 
数据统计（**统计型）： 
读数个数（较多9999个），平均值，标准偏差，较大值和较小值 
数据存储（**统计型）： 
较多200个测量数值,可单独调出
数据值（**统计型）： 
上下限可调,声音报警 
数据接口 ：红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度 ： 0-50℃/150℃ 
电源 ： 2节1.5伏AA碱性干电池